nikon尼康 電子元器件X射線檢測站XT V 160
名稱：物性分析測試儀器
品牌：
型號：
簡介：nikon尼康 電子元器件X射線檢測站XT V 160， 中小型電子元器件檢測用的頂級設備 對于小型的高裝配密度的印刷電路板，上面大量的焊接的零件互相重合遮擋，X射線的透視功能是唯一的高效無損檢測手段。XTV160為設計制造與質量分析部門提...
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- 產品介紹
nikon尼康 電子元器件X射線檢測站XT V 160，中小型電子元器件檢測用的頂級設備
對于小型的高裝配密度的印刷電路板，上面大量的焊接的零件互相重合遮擋，X射線的透視功能是唯一的高效無損檢測手段。XTV160為設計制造與質量分析部門提供簡捷高效的印刷電路裝配與電子元器件檢查系統(tǒng)。在自動檢測模式下可對樣品進行快速檢測，手動模式下可以在軟件中直觀的進行高精度操作，操作者可以對樣品中微小的故障缺陷進行可視化確認分析以及保存結果。
nikon尼康 電子元器件X射線檢測站XT V 160主要特點
• 亞微米級的焦點尺寸NanoTech™射線管
• 快速獲取高品質的圖像
• 可以同時放置多件樣品的大托盤載物臺
• 可以自定義宏讓工作流程自動化
引進功能
• 靈活的操作集成到一個緊湊的系統(tǒng)里
• 人機交互式的可視化功能
• 全自動X射線檢測功能
• 詳細分析用的CT功能（選配）
• 最大可達75°的傾斜觀測角度
• 直觀的GUI界面與交互式操作桿導航功能進行快速檢測
• 便于維護的開管式設計使得維護成本被降低到最小
• 不需要額外保護措施的射線計量安全系統(tǒng)
• 占用空間小，重量輕，安裝設置簡便
用途
• BGA檢測分析
• 焊錫空洞檢測
• 通孔檢測
• 芯片銀膠空洞檢測
• 球形引腳連接檢測
• 壓線連接檢測
• 微小BGA檢測
• Padarray檢測
