中紅外光譜橢偏儀 SENDIRA-F (不帶FTIR)
名稱：涂鍍層測厚儀
品牌：
型號：
簡介：SENDIRA-F 中紅外光譜橢偏儀(不帶FTIR) 廠商名稱： SENTHCH 商品名稱： 中紅外光譜橢偏儀(不帶FTIR) 商品型號： SENDIRA-F 簡單信息： 中紅外光譜橢偏儀具有大面積水平樣品臺，馬達驅動可變入射角度，支持樣品...
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- 產品介紹
SENDIRA-F 中紅外光譜橢偏儀(不帶FTIR)
廠商名稱： SENTHCH
商品名稱： 中紅外光譜橢偏儀(不帶FTIR)
商品型號： SENDIRA-F
簡單信息： 中紅外光譜橢偏儀具有大面積水平樣品臺，馬達驅動可變入射角度，支持樣品水平掃描，吹氮氣去水蒸氣保護紅外光學透鏡。提供新材料如有機物半導體, OLED和有機物光譜范圍內振動光譜的優(yōu)良結果。提供復雜多層膜上化學、機械、電氣、光學信息。即可作為研發(fā)工具.
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